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W1光學(xué)3D輪廓儀利用光學(xué)干涉原理，測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點。對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。

SuperViewW1光學(xué)材料表面形貌測試儀以白光干涉技術(shù)為原理，能夠以優(yōu)于納米級的分辨率，測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù)，廣泛應(yīng)用于光學(xué)，半導(dǎo)體，材料，精密機械等等領(lǐng)域。是一款非接觸測量樣品表面形貌的光學(xué)測量儀器。

SJ5800粗糙度輪廓接觸式測量儀采用超高精度納米衍射光學(xué)測量系統(tǒng)、超高直線度研磨級摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動系統(tǒng)、高性能計算機控制系統(tǒng)技術(shù)，實現(xiàn)對軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析。可廣泛應(yīng)用于精密機械加工、汽車、軸承、機床、模具、精密五金等行業(yè)。

SuperViewW1光學(xué)形貌輪廓儀測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣，是一款利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精細表面輪廓測量儀器。測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。其特殊光源模式可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

CHOTEST中圖儀器SJ5800接觸式輪廓儀超高精度衍射光學(xué)測量系統(tǒng)，具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，分辨率高達0.1nm，系統(tǒng)殘差小于2nm，一次測量同時評定輪廓和粗糙度參數(shù)。可以對零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實現(xiàn)一次掃描測量。

SuperViewW1光學(xué)三維形貌輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。